最近准备把工作中接触到的一些超声检测算法记录下来。 
内容会从最基础的A扫开始。 

这里先简单说明一下后面会出现的几个术语。 
A扫 一条以时间和幅值表示的回波曲线。横坐标表示超声波的传播时间，也可以根据材料中的声速换算成声程或深度；纵坐标表示接收到的回波幅值。 
B扫 沿一个方向连续采集A扫后形成的二维截面图。 
C扫 是在一个平面内进行扫描，并从每个位置的A扫中提取指定深度范围内的特征值，最后得到缺陷在平面内的分布图。 
S扫 通常用于相控阵检测，通过改变声束角度，对一个截面范围进行扇形显示。 
FMC 是一种数据采集方式，会记录不同发射阵元和接收阵元之间的组合信号。 
TFM 是一种成像方法，它利用FMC采集到的数据，对成像区域中的每个像素进行延迟计算和信号叠加，从而得到图像。 

先看一条回波信号是怎样产生的，以及它经过探头、采集端和数字处理之后，怎样变成软件里的一条曲线。 
在...